Electrical Overstress (EOS)

Dieses Seminar präsentiert Definitionen, die nötig sind, um bei der Findung der Fehlerursache eine gemeinsame Sprache zu sprechen und zeigt, welche Unterschiede es zwischen verschiedenen Belastungsszenarien (z.B. EOS versus ESD) geben kann.
Es gibt einen Einblick in die modernen Methoden der physikalischen Fehleranalyse zur Ortung des Fehlerortes im Baustein, wo nicht-zerstörende Methoden wie EMMI oder OBIRCH eingesetzt werden, und stellt zerstörende Methoden wie FIB oder SEM vor, die nötig sind, um das Fehlerbild zu bestimmen. Parallel dazu muss aber die Untersuchung auf Systemebene starten (Fehleranamnese), wo Informationen wie Fehlerhistorie, Fehlerstatistik und die Schaltungsumgebung des geschädigten Bauteils analysiert werden. Das Tutorial zeigt anhand von Beispielen (z. B. Hall-Sensoren, Teflongleitlager in Kleinmotoren, Drosselklappen oder HF-Signalführung), dass nur eine Kombination aus Fehleranalyse und Fehleranamnese zur Bestimmung der Fehlerursache führen kann.
Des Weiteren informiert das Seminar über neue Richtlinien in der amerikanischen (USCAR) und deutschen (VDA) Automobilindustrie, die einen Prozess zur Findung der Fehlerursache definieren, der durchaus in anderen Industriezweigen eingesetzt werden kann.