Prof. Dr.-Ing. Peter M. Leiß
Technische Hochschule Bingen
Steigende Rückrufzahlen auf Grund ausgefallener Elektroniken sowie kürzer werdende Entwicklungszeiten bei gleichzeitig zunehmenden Elektronikumfängen führen dazu, dass sich Zulieferer und OEMs noch intensiver als bisher mit der Einhaltung von Zuverlässigkeitsanforderungen für Kfz-Elektroniken beschäftigen müssen.
Insbesondere im Bereich der Hardwareentwicklung ergeben sich auf Grund der fortschreitenden Miniaturisierung und der mechatronischen Integration von Baugruppen und Komponenten ständig neue Herausforderungen.
Ohne zuverlässige Elektronik wird es zukünftig keine verlässliche Sicherheit und keinen zeitgemäßen Komfort im Straßenverkehr geben.
Zum Thema
Mit den wichtigsten Begriffen der Qualität und Zuverlässigkeit wird die Elektronikentwicklung in den automobilen Produktentstehungsprozess eingeordnet. Fragen der Lieferanten- und Bauelementeauswahl, Sichtweisen zur Gestaltung und Interpretation von Lastenheften sowie einschlägige Normen und Standards werden erörtert.
Zum tieferen Verständnis der Zuverlässigkeit werden die wichtigsten Rechenverfahren vorgestellt und an Beispielen erläutert. Mit typischen Mechanismen der Bauteilalterung - u.a. auf Basis von Temperatur und AVT - wird betrachtet, inwiefern die Methoden der Umweltsimulation zu einer Sicherung und Steigerung von Zuverlässigkeit genutzt werden können.
Verschiedene Beschleunigungsmodelle, die Prüfungen und Lebensdauertests zeitlich raffen können, werden vorgestellt und bewertet. Nach Methoden der Reliability prediction mit den Nebenaspekten FMEA und SIL wird gezeigt, wie sich diese Überlegungen zur Zuverlässigkeit auf die Ersatzteilversorgung auswirken.
USP
Programm
1. Tag: 09:00 - 17:00 Uhr
2. Tag: 09:00 - 17:00 Uhr
Einführung
Mathematische Modellbildung
Ausfall elektronischer Bauelemente
Temperatur und AVT • Wärmetransport, Modelle, Entwärmung
Testen, prüfen, erproben
Reliability prediction
Ersatzteilversorgung
Zielsetzung
Aufbauend auf dem aktuellen Stand der Technik wird dargestellt, wie der Entwickler Lastenheftforderungen, Alterungsmechanismen und Aspekte der Prüfplanung unter dem Blickwinkel der Zuverlässigkeit berücksichtigen muss.
Es wird vermittelt, wie im Zusammenspiel mit anderen Fachabteilungen die Lebensdauer und damit auch die Zuverlässigkeit erhöht werden kann. Eng mit diesen Fragestellungen verknüpft sind die Spezialthemen Hochvolt und Ersatzteilversorgung bei elektronischen Komponenten im Kfz.
Teilnehmerkreis
Mitarbeiter aus Entwicklungs-, Versuchs-, Einkaufs- und Qualitätsabteilungen von Kfz-Zulieferern, OEMs und allen Industriezweigen, welche sich an den Sichtweisen der Automobilindustrie orientieren möchten.
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