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Steigerung der Zuverlässigkeit in der Automobilelektronik

Lastenheft, Bauteilalterung, Beschleunigung der Umweltsimulation, Ersatzteilstrategien

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Steigerung der Zuverlässigkeit in der Automobilelektronik
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Steigerung der Zuverlässigkeit in der Automobilelektronik

Steigende Rückrufzahlen auf Grund ausgefallener Elektroniken sowie kürzer werdende Entwicklungszeiten bei gleichzeitig zunehmenden Elektronikumfängen führen dazu, dass sich Zulieferer und OEMs noch intensiver als bisher mit der Einhaltung von Zuverlässigkeitsanforderungen für Kfz-Elektroniken beschäftigen müssen.

Insbesondere im Bereich der Hardwareentwicklung ergeben sich auf Grund der fortschreitenden Miniaturisierung und der mechatronischen Integration von Baugruppen und Komponenten ständig neue Herausforderungen.

Ohne zuverlässige Elektronik wird es zukünftig keine verlässliche Sicherheit und keinen zeitgemäßen Komfort im Straßenverkehr geben.

 

Zum Thema

Mit den wichtigsten Begriffen der Qualität und Zuverlässigkeit wird die Elektronikentwicklung in den automobilen Produktentstehungsprozess eingeordnet. Fragen der Lieferanten- und Bauelementeauswahl, Sichtweisen zur Gestaltung und Interpretation von Lastenheften sowie einschlägige Normen und Standards werden erörtert.

Zum tieferen Verständnis der Zuverlässigkeit werden die wichtigsten Rechenverfahren vorgestellt und an Beispielen erläutert. Mit typischen Mechanismen der Bauteilalterung - u.a. auf Basis von Temperatur und AVT - wird betrachtet, inwiefern die Methoden der Umweltsimulation zu einer Sicherung und Steigerung von Zuverlässigkeit genutzt werden können.

Verschiedene Beschleunigungsmodelle, die Prüfungen und Lebensdauertests zeitlich raffen können, werden vorgestellt und bewertet. Nach Methoden der Reliability prediction mit den Nebenaspekten FMEA und SIL wird gezeigt, wie sich diese Überlegungen zur Zuverlässigkeit auf die Ersatzteilversorgung auswirken.

 

USP

  • kompakter Überblick
  • Unterstützung zur Umsetzung
  • seit Jahren bewährt

 

Programm

1. Tag: 09:00 - 17:00 Uhr

2. Tag: 09:00 - 17:00 Uhr

Einführung

  • Begriffserklärung Zuverlässigkeit, Negativbeispiele
  • Einordnung in den Produktentstehungsprozess
  • Lieferanten- und Bauelementeauswahl

 

Mathematische Modellbildung

  • Ausfallrate, Ausfallwahrscheinlichkeit
  • Badewannenkurve, Weibullverteilung, Success-Run

 

Ausfall elektronischer Bauelemente

  • Alterungsmechanismen, Fehlerbilder, 
  • Aspekte der mechatronischen Integration
  • Normen und Standards (MIL, AEC-Q,...)

 

Temperatur und AVT
• Wärmetransport, Modelle, Entwärmung

  • Einfluss der AVT

 

Testen, prüfen, erproben

  • zufällige und systematische Fehler
  • Bauteilqualifizierung
  • Beschleunigungsmodelle der Umweltsimulation (Arrhenius, Inverse-Power-Law, Coffin-Manson; Peck, Lawson, HALT, HASS)
  • Lebensdauertest, Burn-in, Run-in, Screening

 

Reliability prediction

  • Sinn und Unsinn von Handbüchern mit tabellierten Ausfallraten
  • FMEA und SIL

 

Ersatzteilversorgung

  • Obsolescence Management
  • Strategien zur Langzeitversorgung und Langzeitlagerung

 

Zielsetzung

Aufbauend auf dem aktuellen Stand der Technik wird im Seminar dargestellt, wie der Entwickler Lastenheftforderungen, Alterungsmechanismen und Aspekte der Prüfplanung unter dem Blickwinkel der Zuverlässigkeit berücksichtigen muss.

Es wird vermittelt, wie im Zusammenspiel mit anderen Fachabteilungen die Lebensdauer und damit auch die Zuverlässigkeit erhöht werden kann. Eng mit diesen Fragestellungen verknüpft ist die Ersatzteilversorgung bei elektronischen Komponenten und Steuergeräten im Kfz.

 

Teilnehmerkreis

Mitarbeiter aus Entwicklungs-, Versuchs-, Einkaufs- und Qualitätsabteilungen von Kfz-Zulieferern, OEMs und allen Industriezweigen, welche sich an den Sichtweisen der Automobilindustrie orientieren möchten.

 

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Referenten

Prof. Dr.-Ing. Peter M. Leiß

Technische Hochschule Bingen

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